产品简介：
检验千分尺：
一、测量面的平行度及平面度采用光学平晶进行检验:
光学平面与丝杆测量面或测砧测量面贴合后，由于测量面的不平度，
使平晶与测量面之间存在空隙，从而产生干涉带或干涉环，在测量面的
垂直方向每条干涉带或干涉环所代表的平面度误差为0.3μm.
二、测量面的平行度误差：
测量范围上限至100mm的千分尺两侧量面的平行度采用丝杆螺距的1/3
或1/4的光学平行平晶来进行检验，依次将光学平行平晶防入两测量面间
转动测力装置。施加5-10N的力,使两测量面出现的干涉环或干涉带数目
减少至最少.
测量范围大于100mm的千分尺,测量面的平行度可用自准直仪进行检
验.
在距测量边缘0.4mm范围内的平行度忽略不计，
三、测量面的平面度误差：
采用二级光学平晶检验，应调整光学平晶使测量面上干涉带或干涉
环。
测量面不应出现两条以上的相同颜色的干涉环或干涉带（测量量面的
平面度，〈0.6μm）
在距测量面边缘0.4mm范围内的平面度忽略不计。
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